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關(guān)于E+H雷達料位計的測量條件都有那些呢？

• ·出現(xiàn)沸騰表面、起泡表面或易生成泡沫液面時，使用FMIR53或PMR54測量。根據(jù)泡沫的具體成份，泡沫可以吸收微波，或微波在泡沫表面發(fā)生發(fā)射。在特定條件下，測量仍可進行。使用FIR50FMR51和FMR52測量時，建議選擇附加選項“動態(tài)響應(yīng)”（訂購選項540：“應(yīng)用軟件包”，選型代號：BM）。
• ·出現(xiàn)嚴重蒸汽或冷凝現(xiàn)象時，E+H雷達物位計FMR50，F(xiàn)MR51和FMR.52的大測量范圍可能會減小，取決于蒸汽的密度、溫度和成份>；請使用FMR53或FMR.54測量。
• ·測量吸附性氣體時，例如：氨氣MH3或某些碳氫化合物2），請在導(dǎo)波管中使用Levelflex或Micropilot FMR54測量。
• ·波束射至罐底的位置即為量程起點。特別是在圓盤底罐或帶錐形出料口的罐體中，物位低于此點，便無法測量。
• 在導(dǎo)波管中測量時，電磁波不會*擴散至導(dǎo)波管外部，應(yīng)將零點設(shè)置在導(dǎo)波管底部。在c范圍內(nèi)測量時，測量精度將降低。為了確保此類應(yīng)用場合中所需的測量精度，建議將零點設(shè)置在導(dǎo)波管底部上方的C。
• ·測量低介電常數(shù)的介質(zhì)時（e，=1。。。4）3），如果介質(zhì)處于較低物位（低于C），罐底可見。在此范圍內(nèi)測量時，精度將降低。如無法接受，在此類應(yīng)用場合中，建議將零點設(shè)置在罐底上方的C。
• ·理論上，E+H雷達物位計大可測量至PMR51，F(xiàn)MR53和FMR54天線末端。但是，考慮腐蝕和粘附的影響，大量程與天線末端間的距離不得小于A。
• ·使用帶平面天線的FMR54測量時，特別是測量低介電常數(shù)的介質(zhì)時，大量程與法蘭間的距離不得小A：1 m（3。28 ft）。
• 小測量范圍B取決于天線類型。，罐體高度應(yīng)至少為H（參考下表）。